REM-Labor

Großanalysengeräte

Zur Charakterisierung von Oberflächen mobiler aquatischer Partikel und poröser Medien nutzen wir Rasterelektronenmikroskopie und Kraftmikroskopie.
REM-Labor
Foto: Katharina Lehmann

Großgeräte

Rasterelektronenmikroskopie Rasterelektronenmikroskopie Foto: Hydrogeologie

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

SEM-EDX ULTRA PLUS, Zeiss AG

Elektronenmikroskopie erlaubt eine deutlich stärkere Vergrößerung als die Lichtmikroskopie, die durch das Abbe Limit auf einige hundert Nanometer beschränkt ist. Damit können Nanopartikel, Kolloide und organische Substanzen morphologisch und durch den EDX-Detektor auch chemisch charakterisiert werden.

 

Kraftmikroskop Kraftmikroskop Foto: Christoph Worsch (Universität Jena)

Kraftmikroskop

AFM Multimode Picoforce VEECO INSTRUMENTS, AFM Bioscope II VEECO INSTRUMENTS mit Axio Observer.Z1 ZEISS

Das Rasterkraftmikroskop gibt durch Abrastern  mit einem (mikroskopische Nadel) ein dreidimensionales Abbild einer Oberfläche, das sogar höhere Auflösungen als bei der Elektronenmikroskopie erreicht. Durch direkten Kontakt des Cantilevers können auch oberflächenaktive Adhäsionskräfte gemessen werden.

Kontakt

Kai Uwe Totsche, Prof. Dr.
Prof. Dr. Kai Uwe Totsche
Raum H 104
Burgweg 11
07749 Jena